產品型號：
更新時間：2019-07-25
廠商性質：經銷商
訪 問 量 ：8163
0574-86861636
產品簡介
MATS-3000M硅鋼材料測量裝置是基于computer（計算機）、Software 軟件、A/D數據采集和ARM嵌入式系統等技術應用條件下的專業磁測量設備。
MATS-3000M硅鋼材料測量裝置運用數字波形補償和數字反饋技術，可準確測量電工鋼片（帶）、坡莫合金、非晶和納米晶等軟磁材料材料在20Hz～2kHz頻率范圍內的交流磁性參數：比總損耗Ps、磁極化強度Jm、磁場強度Hm、比視在功率Ss、振幅磁導率，以及交流磁化曲線和損耗曲線。
主要特點
裝置技術參數
1、工作環境
輸入電源 | 單相200V～240V，50Hz±10%，大10A |
使用環境 | 環境溫度：23±5℃；環境濕度：30～75%RH |
外磁場干擾 | 應避免 |
熱平衡時間 | 10分鐘 |
2、測量范圍
適用標準 | GB/T 3655-2008 、GB/T 13789-2008、GB/T 3658-2008、GB/T 19346.1-2007、IEC 60404-2、IEC 60404-3、IEC 60404-6 |
測量材料 | 可測量電工鋼（硅鋼）、軟磁鐵氧體、坡莫合金、非晶/納米晶和電工純鐵等軟磁材料 |
樣品形狀 | 可采用愛潑斯坦方圈或磁導計測量片狀和條狀等開路樣品 |
可繞線測量環形、EE/EI型、UU/UI、矩形、CD型和雙孔等閉路樣品 | |
測量參數 | Ps、Jm、Hm、Ss，μa、δ、Br和Hc，可推算特定條件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等參數。 |
3、裝置參數
型號 參數 | MATS-3000M/k50A | MATS-3000M/k50B | MATS-3000M/k50C | |
大輸出功率 | 500VA正弦波（20Hz-40Hz：150VA;40Hz-1KHz：500VA;1KHz-2K Hz為350VA） | |||
頻率范圍 | 20Hz～2k | 40Hz～1.2k | 40Hz～1k | |
頻率細度 | 1Hz | |||
輸出電壓 | 0～1V～10V～50V～150V 四檔自動量程 | |||
大輸出電流 | 0～10A | |||
電流采樣 | 6.33mA～20A，八檔自動量程 | |||
電壓采樣 | 1V～316V，六檔自動量程 | |||
測量模式 | 鎖B | 有 | 有 | 有 |
鎖H | 有 | 有 | 無 | |
波形補償 | 有 | 無 | 無 | |
諧波測試 | 有 | 無 | 無 | |
保護功能 | 過熱、過流、過壓和參數保護 | |||
數據采集卡 | 采樣速率：40MHz×2通道;分辨率和線性度：12Bit±1/2LSB | |||
工控計算機 | 研華IPC-510或研祥IPC-810 | |||
操作系統 | Windows XP或Windows 7 | |||
打印機 | 黑白激光打印機 | |||
4、系統參數
4.1、依據國標GB/T 3655-2000，在50Hz、60Hz頻率下，使用25cm愛潑斯坦方圈測量30×300的硅鋼標樣，技術指標如下：
被測參數 | Ps(%) | Ss(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) | |
不確定度(k=2) | 1 | 1 | 2 | 1 | 2 | |
重復性(恒溫) | ± 0.5 | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 | |
備注 | 鎖B測試：無取向片Bm≤1.5T 取向片Bm≤1.7T | 鎖H測試：無取向片Hm≥1000A/m 取向片Hm≥500A/m | ||||
4.2、依據國標GB/T 13789-2008，在50Hz、60Hz頻率下，使用SST-500單片磁導計測量500×500的硅鋼標樣，技術指標如下：
被測參數 | Ps(%) | Ss(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) | |
不確定度(k=2) | 1.5 | 1.5 | 2 | 1 | 3 | |
重復性(恒溫) | ± 0.5 | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 | |
備注 | 鎖B測試：無取向片Bm=0.8～1.5T | 鎖H測試：無取向片Hm≤10000A/m取向片Hm≤1000A/m | ||||
4.3、依據國標GB/T 3658-2008，在20Hz～2kHz頻率下，測量坡莫合金環形試樣，技術指標如下：
被測參數 | Ps(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) |
不確定度(k=2) | 3 | 2 | - | 1 | 1 |
重復性(恒溫) | ± 1.5 | ± 1 | ± 1 | ± 0.5 | ± 0.5 |
備注 | 1、試樣應為薄壁環，外徑/內徑≤1.25。 | ||||
4.4、依據國標GB/T 19346.1-2007，測量非晶環形試樣，技術指標如下：
被測參數 | Ps(%) | Ss(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) |
不確定度(k=2) | 5 | 5 | 3 | - | 1 | 2 |
重復性(恒溫) | ± 3 | ± 2.5 | ± 2 | ± 2 | ± 0.5 | ± 1 |
備注 | ㈠.試樣應為薄壁環，外徑/內徑≤1.5。 ㈡.鎖B測試，且Bm=100mT～200mT；測試前應先退磁，退磁場頻率≤測試頻率。 ㈢.不確定度為“-”，表示國標中不要求。 | |||||
軟件功能
⑴、操作系統：支持WindowsXP和Windows7（32位）操作系統。
⑵、系統語言：可提供中文或英文操作界面。
⑶、測量模式：支持固定頻率、固定Bm或固定Hm等多種測量模式；可自動連續測量，多支持255個測試點。
⑷、采樣波形：實時顯示I(t)、U(t)、B(t)采樣波形，可顯示曲線上每一個數據點的坐標信息。
⑸、樣品規格：支持環形、EE、EI、CD、矩形、雙孔、BS和其它等各種形狀樣品參數的輸入。
⑹、文件管理：有保存數據，刪除數據，清除全部數據等功能。
⑺、數據文件：包含采樣數據、樣品參數、儀器參數和測試方案，文件采用文本格式，可使用記事本、
word或Excel表格打開。
⑻、數據導出：測試數據可直接輸出到Excel表格、word文檔或JPG圖片。
⑼、曲線顯示：可顯示B(H)磁滯回線；進行多點組簇后，可顯示B(H)磁滯回線簇、B(H)磁化曲線、μa(H)磁導率曲線和Ps(B)損耗曲線，可顯示曲線上每一個數據點的坐標信息；可將不同條件下測得的B(H)磁化曲線和Ps(B)損耗曲線組合到一張圖紙上，以便進行對比分析。
⑽、合格判定：按μa、Ps、Bm、Br、Hc和Hm等參數設定上下限，對測試結果進行合格判定，通過數據表格的顏色來確定。
⑾、測試報告：包含完整的曲線圖、測試結果、測試條件和樣品參數；可打印、預覽、保存JPG圖形、E-mail發送JPG圖片文件；可在測試報告上添加用戶標志和企業名稱。
⑿、單位制式：有多種單位制式可選，以保證不同用戶各自的使用習慣。
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